X荧光测厚仪综合性能分析测试

X荧光测厚仪综合性能分析测试

　　X荧光测厚仪可测元素范围：钛（Ti）–铀（U）原子序22–92

　　准直器：固定种类大小:可选圆形0.10.20.30.4mm方型1×0.4mm

　　自动种类大小:可选圆形0.10.20.30.4mm方型0.05×0.4mm

　　电脑系统：DELL品牌电脑,17寸液晶显示器，惠普彩色打印机

　　综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析统计功能

　　X荧光测厚仪性能特点

　　满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

　　φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

　　高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

　　采用高度定位激光，可自动定位测试高度

　　定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

　　鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

　　高分辨率探头使分析结果更加精准

　　良好的射线屏蔽作用

　　测试口高度敏感性传感器保护

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