膜厚测试仪探头使用中经常遇到的问题

发布日期：2020-08-20 作者：admin 点击：

膜厚测试仪探头使用中经常遇到的问题

在维修膜厚测试仪探头时经常发现磁芯的磨损较厉害，有的可以说是损坏严重。沧州欧谱例如N1头的宝石芯经常破损掉碴，F1头磁芯的弧芯被压平或变形等。首先作为探头在使用中被磨损属正常现象。但如果用户根据其特点加以注意，就会延长其使用寿命。其中普遍存在的问题是，在测量时，由于通常都是向下测试，使用者往往较用力向下墩，时间一长就很容易造成测头芯的失效。

正确的使用方法是将探头在被测工件一厘米处时轻轻压向被测表面，因为探头在设计时已经内置一感应压力弹簧，只需轻轻压下即可。

另一点，探头在反复移动的过程中，易与其它物体发生磕、碰、撞，也容易造成测头损坏，沧州欧谱所以如果工作条件允许，可以将测头固定而将被测工件去接触探头，从而减少探头的磕碰。还有一种情况，在测量时，每当测下一个点一定要将测头提起不可平拉，以减少磁芯磨损。

最后一点，测头一定要远离强磁场，以免改变探头的固有频率造成无法工作。正确的操作使用方法会延长仪器的使用寿命。