深圳市谱赛斯科技有限公司
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世界一流,经济有效的Filmetrics薄膜厚度测量系统,测量薄膜厚度仅需几秒钟。Filmetrics系列膜厚测试仪拥有单点测量、显微镜斑点测量、自动测绘系统、在线监测等功能型号的膜厚测试仪产品。Filmetrics 膜厚测试仪通过分析薄膜的反射光谱来测量薄膜的厚度,通过非可见光的测量,可以测量薄至1nm或厚至10mm的薄膜。测量结果可在几秒钟显示:薄膜厚度、颜色、折射率甚至是表面粗糙度。
Filmetrics膜厚测试仪广泛用于半导体制造(非晶多晶硅、多孔硅、光刻胶、氮化物、氧化物等)、液晶显示(聚酰亚胺、导电透明膜)、光学涂层(硬涂层、抗反射涂层)、玻璃和塑料厚度、硬涂层厚度、有机发光显示器、制程薄膜、硅晶圆薄膜等测试应用。
F20 便携式透明/半透明膜膜厚测试仪主要用于测试各种透明半透明的膜厚
产品简介:
1 有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm);
2 最大样品薄膜厚度的测量范围是:3nm ~ 25um;
3 精度为好于0.1nm。
产品特性:
1 、操作简单、使用方便;
2 、测量快速、准确;
3 、体积小、重量轻;
4 、价格便宜。
产品应用:
1 、半导体行业: 光阻、氧化物、氮化物;
2 、 LCD 行业: 液晶盒间隙厚度、 Polyimides;
3 、光电镀膜应用: 硬化膜、抗反射膜、滤波片。
型号规格:
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