镀层测厚仪的特点及测量性能

发布日期：2020-08-21 作者：镀层测厚仪点击：

日立&牛津的测量和分析仪器广泛应用于各个领域，可满足客户对高精度、高可靠性测量和操作简便的需求。我们通过专业的咨询服务为客户提供佳的解决方案，即从第一次接触开始，不断沟通，直至达到定制化服务的理念。这些紧密合作与我们的创新驱动力不断结合，为形成新的测量解决方案奠定了坚实的基础

X-Strata920的特点：
测量范围为钛同时测量5层镀层（含基材镀层），15种元素共存校正；
进行非接触、非破坏的能量色散X射线荧光（EDXRF）分析，进行无损测量；
Ti22---铀U92间各元素；
1.测量时间短，测量时间约10秒，快速得出测量结果；
2.测量结果报告可直接打印、输出到PDF、Excel文档；
3.报告可包含：数据、被测样品点图片、各种统计报表、客户信息；
4.系统安全有：X射线警示灯、X射线锁、红色急停开关、样品室开闭门传感器、光闸传感器、使用者和管理员分级密码管理等；
5.贵重金属分析和金纯度检查（即Au karat评价）；
6.操作简便，一键定焦，有效避免人为操作误差；
7.提供NIST认证的标准片；
8.享有全球的服务与支持。

测量性能：

测厚范围：取决于具体的应用。
测量精度：
1.膜厚≤20μin时，测量误差值为：第一层（最上层）±1μin，第二层±2μin，第二层±3μin
2.膜厚＞20μin时，测量误差值为：第一层（最上层）±5%，第二层±10%，第二层±15%