影响涂层测厚仪测量的因素?

影响涂层测厚仪丈量的因素能够从以下几个方面分析：

1，基体金属磁性 磁性法测厚受基体金属磁性改变的影响（在实践应用中，低碳钢磁性的改变能够认为时细微的）。为了避免热处理、冷加工等要素的影响，应运用与试件金属具有相同性质的铁基片对仪器进行校准。

2，基体金属厚度 每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。

3，边缘效应 本仪器对试片表面形状的陡变敏感。因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

4，曲率 试件的曲率对测量有影响，这种影响总是随着曲率半径的减小明显地增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。

5，表面粗糙度 基体金属何覆盖层的表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差何偶然误差。每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未屠夫的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用没有腐蚀性的溶液除去基体金属覆盖层，再校对仪器的零点。

6，磁场 周围各种电气设备所发生的强磁场，会严重地干扰磁性法丈量厚度的作业。

7，附着物质 本仪器对那些妨碍探头与覆盖层外表紧密触摸的附着物质敏感。因此必须铲除附着物质，以确保探头与覆盖层外表直触摸摸。

8，探头压力 探头置于试件上施加的压力大小会影响丈量的读数。因此本仪器探头用弹簧坚持一个根本恒定的压力。

9，探头的放置 探头的放置方式对丈量有影响。在丈量中，应当使探头与试样外表坚持垂直。

10，试件的变形 探头使软覆盖层试件变形。因此在这些试件上会测出不太牢靠的数据。 读数次数 一般仪器的每次读数并不完全相同。因此必须在每一丈量面积内取几个读数，覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行屡次丈量。外表粗糙时更应如此。