膜厚仪的影响要素有哪些？

膜厚仪的影响要素有哪些？

1、基体金属磁性质

磁性法测厚受基体金属磁性改变的影响(在实践运用中，低碳钢磁性的改变能够认为是轻微的)，为了防止热处理和冷加工因素的影响，应运用与试件基体金属具有相同性质的规范片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。

2、基体金属电性质

基体金属的电导率对丈量有影响，而基体金属的电导率与其资料成分及热处理方法有关。运用与试件基体金属具有相同性质的规范片对仪器进行校准。

3、基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，丈量就不受基体金属厚度的影响。

4、边缘效应

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行丈量是不牢靠的。

5、曲率

试件的曲率对丈量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在曲折试件的表面上丈量是不牢靠的。

6、试件的变形

丈量头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出牢靠的数据。

膜厚仪

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