如何为您的电子元件镀层挑选合适的XRF配置

XRF剖析仪有多种装备可供挑选：探测器类型、光学系统类型、自动化装备，乃至是台式或手持式剖析仪。在本文中，我们将探讨运用XRF丈量电子元件镀层所存在的应战，并评论在出产环境中实现牢靠和快速丈量的最佳装备。

外形要素：手持式还是台式XRF剖析仪？

今日，手持式和台式剖析仪均可在简直一切类型的基材上丈量0.001-50μm（0.05-2000 微英寸）的金属镀层厚度。两种装备该挑选哪一个更取决于实用性，而不是功能。假如您丈量的是十分大的部件，有相对大的镀层面积，肉眼很容易看到（而且能够用手轻松地将剖析仪抵近到位），那么手持式剖析仪是最合适的。

但是，许多电子元件彻底不是这样。这些电子元件十分微小，需求经过显微镜和照相机设备定位，并运用精细载物台和专用光学器材，来保证准确地剖析正确的特定测点。关于电子元件来说，台式剖析仪简直总是人们挑选的类型。

决定要素：元件的尺度和被测特定测点的尺度。您能把您的元件带到实验室吗？假如不能的话，那么您需求一台手持式剖析仪。您需求丈量小于1mm的面积吗？假如是的话，那么您需求一台台式剖析仪。

光圈类型：准直器还是毛细管光学组织？

剖析仪的光圈将发生的x射线引导并聚集到样品外表。发生的光斑必须小于您需求丈量的零件，您挑选的光学器材将由您的零件尺度决定。

XRF剖析仪通常配有两种类型光圈中的一种：准直器或毛细管光学组织。准直器是一个有孔的金属块，一部分X射线信号经过孔到达样品。关于丈量100µm和更大的零件，这是一个不错的挑选。毛细管光学组织运用特殊的玻璃毛细管搜集简直一切的X射线信号，并将其聚集到一个十分小的点。这使您能够丈量小于50 µm的零件。与准直器装备比较，由于运用了更高份额的X射线，因而这项技能对较薄的镀层也有更好的精度。

决定要素：光斑大小。关于小于50µm的零件，您需求毛细管光学组织，若大于此尺度，准直器装备可能会更合适。

探测器类型：份额计数器还是硅漂移探测器？

XRF剖析仪中主要有两种类型的探测器：份额计数器和根据半导体的探测器，硅漂移探测器（SDD）是最常见的半导体探测器。决定哪种技能最适合您的应用可能很扎手，因为这两种技能在不同的情况下均有各自的优势。

份额计数器由惰性气体封装于金属圆柱体中构成，当惰性气体遭到X射线炮击时会发生电离。它们对像锡或银这样的高能量元素有很好的灵敏度，关于元素较少的简略剖析十分有用。

SDD是半导体器材，当遭到X射线炮击时会发生特定数量的电荷。当您对样品中的几种元素感兴趣时，或者在检测低能量元素，如磷时，它们能供给更好的分辨率。

下图说明了同一样品中份额计数器和SDD的输出差异。红色峰表明SDD输出，灰色光谱表明份额计数器。

决定要素：这很杂乱，但假如您需求丈量多种不同的元素或十分薄或杂乱的镀层，那么SDD是最佳挑选。