直读光谱仪应用的过程中受那些干扰？

直读光谱仪可用于铸造、锻造、机械配件、配备制造、质检、高校教育训练等领域。在直读光谱仪剖析过程中，采用高稳定的激起光源，激起频率在150—500Hz之间改变，剖析不同的样品，可选择不同的激起参数，可达到最佳的剖析作用。在实际剖析中会遭到第三元素的影响，这些干扰从何而来，我们能够战胜它们得到一个好的剖析成果吗？

直读光谱仪中有关第三元素影响的问题，人们一般从以下三个方面解说：

（1） 谱线干扰：因为试样组分复杂，所选元素的剖析线直接受试样中其它组分发射谱线的影响，这种影响又称为光谱干扰。

基体。简单的说，样品中除了少量存在的待测物之外，还有大量的其他物质，这便是基体。

基体效应。实验证明，当被测元素的浓度一定时，剖析元素谱线的绝对强度及相对强度值不只决定于蒸腾、激起等摄谱条件，而且与试样总组成有关。试样总组成对谱线强度的影响称为第三元素的影响。第三元素是指除了内标和剖析元素以外而存在于试样中的元素，这种影响有时称为基体效应。

（2）当选择了不适宜的基体内标时，因为基体含量的改变造成剖析线对相对强度的改变，影响成果的稳定。当用铁内标进行低合金钢剖析时，要求基体含量根本不变。

（3）第三元素的存在影响试样的蒸腾过程。蒸腾过程对谱线强度的影响是复杂的，所得研究规律还很不完善，仍属定性的经验规律。所以剖析时应采用与试样组成及安排结构尽量共同的规范样品或控制样品。

3.定性剖析。便是要确认某试样中有没有指定的元素或确认某试样中究竟有哪些元素（全定性）

4.定量剖析。便是要根据被测试样中待测元素的谱线强度来确认该元素的浓度。光谱定量剖析，主要是根据样品中剖析元素的谱线强度来确认元素的浓度。般当试样中某一元素的含量不太高时，该元素发射的光谱谱线强度是和它的含量成正比。这个关系成为光谱定量剖析的基础，并使光谱定量剖析成为十分方便的办法。凡是光谱定性剖析能测到的元素，一般都能够做定量剖析，元素周期表上约七十个元素，能够用光谱办法，较容易定性剖析。X射线荧光分析仪

综上所述，直读光谱仪在剖析过程中遭到这些因素的影响，有些因素在剖析前能够考虑到，做好剖析制备的工作，免于第三元素的干扰。