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上海镀层测厚仪X-Strata920

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上海镀层测厚仪X-Strata920

  • 所属分类:上海牛津日立镀层测厚仪

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  • 发布日期:2021/12/09
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详细介绍

牛津仪器X-Strata920   X射线荧光镀层测厚仪


快速可靠的X射线荧光镀层厚度测量及材料分析,低成本、高效率



X-Strata920产品介绍------样品台选项

半自动固定样品台


半自动加深样品台


全自动样品台

 镀层测厚仪


 镀层测厚仪


ØZ轴自动控制,移动行程:43mm (1.7"),XY轴手动控制

Ø样品台高度固定,测量最大样品高度33mm

Ø仪器外形尺寸(宽×深×高):407×770×305mm(不含电脑和显示器)

      

ØZ轴自动控制,移动行程:43mm (1.7"),XY轴手动控制

Ø样品仓抽屉式设计,4个位置上下可调,每格高度25.4mm

Ø最大样品高度160mm

Ø样品仓内部尺寸(宽×深×高):279×508×152mm

Ø仪器外形尺寸(宽×深×高):407×770×400mm(不含电脑和显示器)

Ø自定义样品台:依据客户要求提供更高的样品台,满足高度大于160mm的样品测量,仓内抽屉式设计,多个位置上下可调,每格高度25.4mm

     

ØZ轴自动控制,移动行程:43mm (1.7"),XY轴自动控制

Ø可提供对样品的自动和编程控制,多点测量

Ø鼠标控制样品台移动,精确地定位样品测量点

Ø测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式

Ø样品台移动行程:178×178mm

Ø样品台尺寸:宽610×深560mm

Ø最大样品高度33mm

Ø仪器外形尺寸:宽610×深1037×高375mm(不含电脑和显示器)

X-Strata920产品介绍------X射线管、准直器

牛津50瓦微聚焦X射线管

 镀层测厚仪

传统微聚焦X射线管

 镀层测厚仪

牛津微聚焦X射线管

 镀层测厚仪

Ø垂直下照式X射线光学系统

Ø50W(50kV,1.0mA)空冷式微聚焦型钨W靶X射线管

Ø高计数率,改善分析精度

Ø到达更小的激发X射线束斑



多种型号规格的准直器

 镀层测厚仪

 镀层测厚仪

圆形0.2mm(8mil)


 镀层测厚仪

矩形0.05*0.05mm

(2*2mil)

 镀层测厚仪

矩形0.05*0.25mm

(2*10mil)

Ø单准直器组件;

Ø多准直器自动控制组件:最多可同时装配6种规格的准直器;

Ø圆形、矩形多种规格尺寸任选(红色常用)



圆形

mil

4

6

8

12

13

20

mm

0.102

0.152

0.203

0.305

0.33

0.508

矩形

mil

1x2

2x2

0.5x10

1x10

2x10

4x16

mm

0.025x0.05

0.05x0.05

0.013x0.254

0.254x0.254

0.051x0.254

0.102x0.406


X-Strata920工作原理

 镀层测厚仪

对被测样品发射一束一次X射线,样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度,X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。

X-Strata920工作特点

Ø测量元素范围:钛Ti22---铀U92;

Ø测量5层(4层镀层+底材层)镀层,同时分析15种元素,自动修正X射线重叠谱线;

Ø测量精度高、稳定性好,测量结果精确至μin;

Ø快速无损测量,测量时间短,10秒内得出测量结果;

Ø可分析固体、溶液;定性、半定量和定量分析;

Ø进行贵金属检测,如Au karat评价;

Ø材料鉴别和分类检测,材料和合金元素分析,元素光谱定性分析;

Ø强大的数据统计、处理功能:平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图,数据分组、X-bar/R图表、直方图;

Ø结果输出:直接打印或一键导出到PDF、Excel文件;报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等;

Ø测量位置预览功能;高分辨率彩色CCD样品观察系统,标准光学放大倍数为30倍;

Ø激光对焦和自动对焦功能;单击鼠标,Z轴自动扫描,镭射聚焦;

Ø拥有NIST认证的标准片;

Ø提供全球服务及技术支持。



X-Strata920先进的系统安全性

 

简单用户界面只向日常操作员设定有限的授权

主管人员可进行系统维护

系统自动生成操作员的使用记录

自动锁定功能防止未授权的操作

Z轴保护传感器

安全防射线光闸

样品室门开闭传感器

X射线锁

X射线警示灯

紧急停止按钮

前面板安全钮和后面板安全锁

镀层测厚仪


X-Strata920的配置

ØX-Strata920测试主机

Ø联想ThinkCentre计算机(原IBM)------Windows7中文版、SmartLink FP分析软件包

Ø17吋戴尔Dell液晶显示器

Ø佳能Canon彩色喷墨打印机

Ø标准片组件(满足镀层需要)


X-Strata920三步即可获得测量结果 


1 将产品放置在样品台上

镀层测厚仪

Ø无损分析,无需样品制备

Ø开槽式样品仓便于放置产品

Ø超大样品台便于大面积产品(如:PCB)测量

Ø配备了门开闭传感器,增强了安全性


2 一键完成视频聚焦

镀层测厚仪

Ø一键自动镭射聚焦,避免人为操作误差

Ø标配固定焦距12.7mm,选配变焦

Ø高分辨率、高放大倍率的彩色数码影像装置,画面清晰、测试点精准定位;放大倍数:30倍(标配),50倍(选配)

Ø自动台:利用可编程XY样品台和Z轴实现单次或多次分析操作

Ø简单快速的多点分析


3 一键完成测量

镀层测厚仪

Ø几秒内显示结果

Ø保存、打印或传输结果

Ø测试结果可一键导出PDF(标配)、Excel(选配)

Ø使用预置和客户自定义的报告模板




相关标签:镀层测厚仪,牛津膜厚仪,荧光镀层测厚仪,日立膜厚仪

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